CORONUS 제품군

산업의 과제

칩 제조업체들이 웨이퍼 외곽에 양호한 다이의 수를 늘리기 위한 중요 전략으로 엣지 제외부를 점차 줄이는 것에 집중하면서, 베벨 공정은 개발 팀의 최우선 순위가 되어가고 있습니다. 웨이퍼 엣지에서 필름 적층의 기계적 마모나 응력으로 인해 필름이 박리되고 이후 웨이퍼 전면에 재증착되면 수율에 잠재적인 영향을 미칠 수 있습니다. 액침 노광의 경우, 엣지에 존재하는 결함이 웨이퍼로 옮겨가면 수율 이탈을 야기하므로 엣지의 무결성이 절대적으로 중요합니다. 베벨 영역을 대상으로 하는 세정 또는 증착을 통해 수율에 악영향을 주는 웨이퍼 엣지에서 기인하는 결함 원인을 제거하여 이 문제를 해결할 수 있습니다.

 

주요 고객 이점

  • 웨이퍼 엣지에서 불필요한 물질을 선택적으로 제거하여 수율 개선
  • 독점 플라즈마 밀폐 기술을 이용한 활성 다이 영역 보호
  • 높은 생산성 보장하기 위한 다중 소재 필름 스택과 잔여물의인시투제거
  • α-탄소 필름과 탄소 함량이 많은 잔여물을 제거하는 업계 유일의 베벨 세정 제품
  • 금속 필름을 제거하여 추후 플라즈마 단계에서 아킹(arcing) 방지
  • 엣지 칩핑과 프로필 롤 오프와 같은 웨이퍼 본딩 문제 제거
  • 장기간 습식 식각 시 베벨의 기판 손상 방지

제품 제공

  • Coronus®
  • Coronus® HP
  • Coronus® DX

주요 응용 프로그램

  • 얕은 트렌치 소자 분리(STI)용 식각 후처리, 게이트, 중간 공정(middle-of-line, MOL), 후공정(back-end-of-line, BEOL)
  • 증착 전처리 및 후처리
  • 노광 전처리
  • 금속막 제거
  • 웨이퍼 간 본딩 갭 충전
  • 습식 및 건식 식각 베벨 보호