CORONUS产品系列

行业挑战

芯片制造商越来越注重减少边缘损耗,以此作为增加晶圆边缘有效芯片数量的重要策略,因而晶圆边缘工程成为开发团队的首要工作。晶圆边缘薄膜叠层的机械磨损或应力可能导致薄膜分层,随后重新沉积在晶圆正面,因而影响良率。在浸入式光刻技术中,边缘存在的缺陷会被带到晶圆关键区域,导致良率下降,因此晶圆边缘完整性至关重要。晶圆边缘区域清洗或沉积步骤有助于消除晶圆边缘的良率限制因素,解决上述问题。

主要客户利益

  • 选择性地移除晶圆边缘的无用材料,提高良率
  • 运用专利的等离子处理技术,保护有效芯片的区域
  • 同步清除多种材料的薄膜叠层和残留物,确保高生产效率
  • 行业内唯一能清除非晶碳薄膜和富碳残留物的边缘清洗产品
  • 去除金属膜,防止在后续的等离子刻蚀或沉积步骤中形成电弧
  • 消除了边缘崩裂和轮廓滚降等晶圆键合问题
  • 防止在长时间的湿法刻蚀过程中对晶圆边缘的衬底造成损坏

产品

  • Coronus®
  • Coronus® HP
  • Coronus® DX

主要应用

  • 浅沟槽隔离 (STI)、栅极、中段制程(MOL) 和后段制程(BEOL) 刻蚀工艺后
  • 薄膜沉积前后
  • 光刻前
  • 清除金属薄膜
  • 晶圆键合流程中晶圆间间隙填充
  • 湿法和干法刻蚀时对晶圆边缘的保护