低温刻蚀 - Lam Research

低温刻蚀

当今的数据密集型 AI 应用需要在存储器技术方面取得重大进步,尤其是在 NAND 闪存方面,包括更快的数据传输速度。 计算需求的激增导致处理存储器系统内数据传输的功耗增加。 芯片制造商需要从 200 层及更多 3D NAND 进行扩展,以满足每比特成本降低的要求,同时减少对环境的影响。

通过低温刻蚀技术可使用新颖的化学品来提供实现更高深宽比的刻蚀功能。 低温技术可提高刻蚀速率、提供垂直高深宽比轮廓,以及减少刻蚀工艺对环境的影响。

通过使用专有的独特技术,泛林集团已凭借以下方面逐渐完善了通孔刻蚀技术:

  • 低温高纵横比刻蚀: 均匀的深刻蚀可实现每单元更多位数
  • 字线间距缩小: 更薄的氧化物/氮化物沉积层可实现每个器件的更多位数 VECTOR® PECVD(高生产率氧化物间隙填充)和 ALTUS® W(低应力 HAR 钨填充)
  • 先进的字线金属化: 更低电阻的金属可实现更薄的连接和更快的器件。 VECTOR® Strata®(低应力均匀控制氧化物/氮化硅层)、Kiyo®、Halo(HAR 特征中的无空隙钼填充)
  • 晶圆应力管理: 背面沉积可控制晶圆弯曲并构建更高的器件。 Coronus® DX(高选择性斜面沉积)、VECTOR® DT(用于晶圆弯曲补偿的均匀背面)和 EOS®(高生产率背面刻蚀)

凭借这些技术,泛林集团已使我们的客户能够实现近乎完美的存储器孔刻蚀轮廓,同时具有高吞吐量且对环境影响更小。

泛林集团 Cryo™ 3.0 简介

泛林集团 Cryo™ 3.0 可实现更高的深宽比特征,并具有突破性的精度和轮廓控制。 通过充分利用表面化学、等离子体物理学和工艺设计方面的创新,泛林集团的 Cryo™ 3.0 经过优化,可制造未来具有 400 层及以上的 3D NAND 器件。

泛林集团 Cryo™ 3.0 与 Flex® 和 Vantex® 兼容,所有领先的存储器制造商均在 3D NAND 的大批量生产中使用这些设备进行对器件非常关键的通孔刻蚀。 在现有和未来安装的机台中添加泛林的 Cryo™ 3.0 功能可使客户以卓越的性能和生产力实现其设备投资的最大化。

在此处了解有关低温刻蚀和不断发展的 3D 创新的更多信息。

迈向 1,000 层 3D NAND 之路

AI 时代的存储器

低温刻蚀

相关产品

泛林集团的低温电介质刻蚀技术与泛林广受欢迎的 Flex® 电介质刻蚀技术和 Sense.i® 平台上的 Vantex® 反应离子刻蚀系统兼容,这使客户能够轻松利用和扩大现有设备中的投资。

FLEX产品系列

Atomic Layer Etch (ALE) 低温刻蚀 反应离子刻蚀(RIE)

Lam的介电刻蚀设备能够刻蚀各种具有挑战性的结构,以应用在先进器件上。

Vantex产品系列

低温刻蚀 反应离子刻蚀(RIE)

Vantex专为Sense.i平台设计,通过技术和Equipment Intelligence(设备智能)的创新,重新定义高深宽比刻蚀。

额外资源

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