FLEX系列產品

行业挑战

由於先進製程節點導入了新的材料、複雜且新穎的整合技術、以及尺寸的持續微縮,介電層蝕刻技術正面臨了多重挑戰。這些新材料和整合技術需要蝕刻多層薄膜堆疊的能力,而且往往薄膜之間的選擇性極大。晶片製造商為了降低單位晶圓的總成本,越來越強調原位(in-situ)蝕刻多層薄膜的能力。尺寸微縮的挑戰包括,需能夠產生深寬比日益增加的最佳蝕刻輪廓,特別是對記憶體儲存單元中的電容結構和接點(contact),同時還要能為大量生產提供再現性高的尺寸控制。對邏輯元件來說,互連結構的尺寸微縮推升了各種低介電值(low-k )材料的高選擇性蝕刻,但又不能增加介電層薄膜的介電值或對元件效能帶來負面影響。

主要客户利益

  • 透過獨特的多頻及小量的電漿隔離設計,可實現優異的均勻度、再現性和調變性
  • 透過原位(in-situ)多步驟蝕刻製程以及連續電漿功能,實現高生產力與低缺陷率
  • 低風險、具成本效益的升級方案,可延長產品的使用壽命,並最大化投資回報
  • 利用Lam的先進混合模式脈衝(Advanced Mixed Mode Pulsing,AMMP™)技術,實現超高選擇性的電漿輔助原子層蝕刻(ALE)製程

產品

  • Exelan® Flex®
  • Exelan® Flex45™
  • Flex® D 系列
  • Flex® E 系列
  • Flex® F 系列
  • Flex® G 系列

主要应用

  • 低介電值(Low-k)和超低介電值雙鑲嵌(dual damascene)技術
  • 自我對準接點 (self-aligned contact)
  • 電容儲存單元(capacitor cell)
  • 罩幕開口(Mask open)
  • 3D NAND的高深寬比孔洞(hole)、溝槽與接點