低溫蝕刻 - Lam Research

低溫蝕刻

當今的資料密集型 AI 應用需要在記憶體技術上取得重大進展,尤其是在 NAND 快閃記憶體方面,包括更快的資料傳輸速度。 算力需求的激增導致記憶體系統內資料傳輸的功耗增加。 晶片製造商需要從 200 層 3D NAND 擴展至更多層,以滿足每位元成本降低的要求,同時減少對環境的影響。

低溫蝕刻技術可運用新穎的化學品來達成更高深寬比的蝕刻能力。 低溫技術可提高蝕刻速率、提供垂直高深寬比輪廓,以及減少蝕刻製程對環境的影響。

透過專利創新技術,科林研發已逐漸完善通道孔洞蝕刻技術:

  • 低溫高深寬比蝕刻: 均勻的深度蝕刻可實現每單元更多位元
  • 字元線間距的微縮: VECTOR® PECVD(高生產率氧化物間隙填充)和 ALTUS® W(低應力 HAR 鎢填充)製造更薄的氧化物/氮化物沉積層,可實現每個元件更高的位元
  • 先進字元線的金屬化: 更低電阻的金屬可實現更薄的連接和更快的元件。 VECTOR® Strata®(低應力且均勻的 Ox/SiN 層控制)、Kiyo®、Halo(高深寬特徵的無間隙鉬填充)
  • 晶圓應力管理: 晶背沉積可控制晶圓曲度,實現更高的元件。 Coronus® DX(高選擇性晶邊薄膜沉積)、VECTOR® DT(用於晶圓曲度補償的均勻性晶背沉積)和 EOS®(高生產率晶背薄膜蝕刻)

憑藉這些技術,科林研發已使我們的客戶能夠實現近乎完美的記憶體孔洞蝕刻輪廓,同時具有高生產量和低環境衝擊。

科林研發 Cryo™ 3.0簡介

科林研發 Cryo™ 3.0 可實現更高的深寬比特徵,並具有突破性的精度和輪廓控制。 透過充分利用表面化學、電漿物理學和製程設計方面的創新,科林研發的 Cryo™ 3.0 經過最佳化,可製造未來具有 400 層及以上的 3D NAND 元件。

科林研發的 Cryo™ 3.0 與 Flex® 和 Vantex® 相容,所有領先的記憶體製造商均使用於 3D NAND 大量製造中,以進行元件上關鍵的通道孔洞蝕刻。 在現有和未來設備安裝量中新增科林研發 Cryo™ 3.0 功能,可使客戶以卓越的效能和生產力實現其設備投資的最大化。

瞭解更多有關低溫蝕刻和不斷發展的 3D 創新技術資訊。

邁向 1,000 層 3D NAND 之路

AI 時代的記憶體

低溫蝕刻

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科林研發的低溫介電層蝕刻技術與科林研發廣受歡迎的 Flex® 介電層蝕刻技術和 Sense.i® 平台上的 Vantex® 反應離子蝕刻系統相容,使客戶能夠輕鬆運用和擴大其投資在現有設備上。

FLEX系列產品

Atomic Layer Etch (ALE) 低溫蝕刻 反應離子蝕刻(RIE)

Lam Research的介電層蝕刻系統具備應用導向功能,可用來建構先進元件中的各種高難度結構。

VANTEX系列產品

低溫蝕刻 反應離子蝕刻(RIE)

專為Sense.i平台所設計,Vantex透過技術創新和Equipment Intelligence 重新定義了高深寬比蝕刻。

其他資源

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